本發(fā)明涉及一種基于回歸分析的節(jié)點(diǎn)映射圖像重構(gòu)方法。根據(jù)實(shí)際物理模型的幾何形狀以及激勵(lì)和測量方式確定數(shù)學(xué)模型場域、激勵(lì)和測量電極位置,設(shè)定需計(jì)算的場域內(nèi)系列節(jié)點(diǎn)坐標(biāo),計(jì)算已知初始狀態(tài)各節(jié)點(diǎn)和電極位置的電位。應(yīng)用回歸分析擬合邊界電位分布函數(shù)方程,根據(jù)各節(jié)點(diǎn)的計(jì)算電位依據(jù)等位對(duì)應(yīng)關(guān)系計(jì)算各節(jié)點(diǎn)在邊界的映射位置。讀入實(shí)測電位值,應(yīng)用回歸分析擬合測量狀態(tài)邊界電位分布函數(shù)方程,根據(jù)測量狀態(tài)與初始狀態(tài)邊界電位變化值計(jì)算各節(jié)點(diǎn)阻抗變化值。重復(fù)以上步驟,并將各節(jié)點(diǎn)阻抗變化值分別累加。設(shè)定圖像分辨率,應(yīng)用回歸分析在各節(jié)點(diǎn)阻抗變化值的基礎(chǔ)上通過數(shù)據(jù)插值計(jì)算重構(gòu)圖像矩陣,再轉(zhuǎn)換為灰度或偽彩色像素值,進(jìn)行圖像輸出。本發(fā)明減少了運(yùn)算量,節(jié)省時(shí)間,實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)成像,運(yùn)算速度和重構(gòu)圖像質(zhì)量都得到大幅度提高,可應(yīng)用于軍事、地質(zhì)、勘探、石油、化工、冶金、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。
聲明:
“基于回歸分析的節(jié)點(diǎn)映射圖像重構(gòu)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)