本發(fā)明涉及一種測量非均勻氣固兩相流中顆粒濃度和速度的方法及探針。其要點是通過限制測量顆粒濃度的光纖探針端部的測量體積來實現(xiàn)顆粒濃度測量的局域化和線性化,通過同時測量瞬時顆粒濃度和動壓強,得到瞬時顆粒真實速度,然后對其進行濃度加權(quán)平均得到顆粒平均速度。本發(fā)明提出的測量方法和探針集濃度和速度測量于一體,結(jié)構(gòu)簡單,標(biāo)定方便,解決了濃度測量中的標(biāo)定和速度測量中的平均值問題,可用于石油、化工、冶金、能源、環(huán)境和材料等領(lǐng)域。
聲明:
“非均勻氣固兩相流顆粒濃度和速度的測量方法及探針” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)