本發(fā)明公開了一種在位式氣體測量方法,包括以下步驟:A.向光發(fā)射和/或光接收區(qū)域內(nèi)通吹掃氣體,吹掃氣體中含有待測氣體成分;B.光源發(fā)出測量光;C.測量光中包含的第一光束和第二光束在穿過待測氣體之前或之后被分開;其中,第一光束穿過了吹掃氣體、待測氣體,經(jīng)吸收后被接收,得到包含吹掃氣體、待測氣體信息的第一信號;第二光束穿過了光發(fā)射區(qū)域內(nèi)的吹掃氣體,經(jīng)吸收后被接收,得到包含吹掃氣體信息的第二信號;D.處理第一信號和第二信號,得到待測氣體的參數(shù)。本發(fā)明還公開了一種用于實施上述方法的在位式測量裝置。本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單、安裝調(diào)試容易、成本低、測量精度高等優(yōu)點,可廣泛應(yīng)用在冶金、化工、水泥、環(huán)保等領(lǐng)域中。
聲明:
“在位式氣體測量方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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