本發(fā)明涉及一種基于電磁轉矩變化的導體中缺陷的無損檢測方法,屬于電力、電子工業(yè)、冶金工業(yè)、
半導體材料、石油能源技術領域。本方法首先在圓柱形永磁體的一側設置轉矩傳感器,驅動圓柱形永磁體旋轉,使不含缺陷的導體與旋轉的圓柱形永磁體靠近,測得圓柱形永磁體的旋轉角速度隨時間變化的參考曲線,再測得帶有缺陷的永磁體的旋轉角速度隨時間變化的多個標定曲線,使永磁體靠近被測導體,得到測量曲線,將測量曲線與標定曲線進行比較,得到被測導體的缺陷尺寸。本發(fā)明方法適用于線材、管材以及薄板類的導體,且被測導體無須運動,簡化了測量條件、測量過程和測量成本,簡化了測量設備,易于實現(xiàn)自動化和小型化,可以應用到更多的領域和環(huán)境中。
聲明:
“基于電磁轉矩變化的導體中缺陷的無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)