本發(fā)明屬于地質(zhì)勘察的技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種利用單一納米微粒的化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù)預(yù)測隱伏礦床的方法。所述方法包括如下步驟:采集被檢樣品,將被檢樣品制備成測試樣品,采用探針技術(shù)分析測試樣品中的單一納米微粒,并對單一納米微粒中的元素進(jìn)行定性和定量分析,根據(jù)分析得到的化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù)預(yù)測隱伏礦床。通過對測試樣品中的元素進(jìn)行定性和定量分析,根據(jù)所得到化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù)預(yù)測隱伏礦床,可以實現(xiàn)找礦數(shù)據(jù)由半定量到定量的質(zhì)的飛躍,獲得更精確、更豐富的關(guān)于隱伏礦體的信息,降低找礦成本。
聲明:
“利用單一納米微粒的化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù)預(yù)測隱伏礦床的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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