本申請涉及礦石檢測技術(shù)領(lǐng)域,提供一種用于獲取礦石品位的系統(tǒng)及多源數(shù)據(jù)采集裝置,所述用于獲取礦石品位的系統(tǒng)包括所述多源數(shù)據(jù)采集裝置和數(shù)據(jù)處理器,多源數(shù)據(jù)采集裝置包括礦石輸送帶和防護(hù)通道,防護(hù)通道上方設(shè)置有連通射線源腔室的開口;射線源腔室頂部設(shè)置有X射線源,X射線源與礦石輸送帶之間設(shè)置有準(zhǔn)直器,礦石輸送帶正下方設(shè)置有雙能X射線探測器,防護(hù)通道側(cè)頂設(shè)置有工業(yè)相機(jī);在實(shí)際應(yīng)用過程中,通過X射線源向礦石輸送帶上的礦石發(fā)射X射線,由工業(yè)相機(jī)采集礦石的可見光圖像,由雙能X射線探測器采集X射線透射高低能灰度圖像,從而獲得用于獲取礦石品位的多源數(shù)據(jù),并由數(shù)據(jù)處理器根據(jù)采集的多源數(shù)據(jù),生成礦石品位預(yù)測值。
聲明:
“用于獲取礦石品位的系統(tǒng)及多源數(shù)據(jù)采集裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)