本發(fā)明公開(kāi)了一種基于測(cè)量非金屬晶體礦物電荷分布的環(huán)境溫度變化測(cè)定裝置和測(cè)定方法。它包括樣品腔、熱激活單元、光電轉(zhuǎn)換探測(cè)單元和分析單元;所述的樣品腔用于裝載樣品;所述的熱激活單元用于通過(guò)加熱熱激活樣品腔中的樣品使其釋放熱釋光;所述的光電轉(zhuǎn)換探測(cè)單元用于將樣品釋放的熱釋光光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào);所述的分析單元用于讀取光電轉(zhuǎn)換探測(cè)單元的電信號(hào),分析樣品的熱釋光發(fā)光特征,再與經(jīng)X射線、紫外光或者同位素放射源輻照的、已知受熱歷史的同種樣品的熱釋光發(fā)光特征進(jìn)行對(duì)比,從而估計(jì)樣品的受熱溫度變化歷史。利用本發(fā)明的裝置,按照本發(fā)明的方法能以非現(xiàn)場(chǎng)方式測(cè)量樣品受熱歷史和溫度變化歷史情況。
聲明:
“基于測(cè)量非金屬晶體礦物電荷分布的環(huán)境溫度變化測(cè)定裝置和測(cè)定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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