本發(fā)明公開了一種基性巖中原位鋯石的尋找方法,是將新鮮基性巖制成探針薄片后,結(jié)合偏光顯微鏡、偏光鏡陰極發(fā)光儀、電子探針分析儀BSE成像及電子探針能譜儀進行分析,從而準確判斷原位鋯石的位置。本發(fā)明的方法可以解決在硅不飽和的基性巖(SiO
2<52%)中難以尋找硅酸鹽礦物鋯石(ZrSiO
4)的問題,并可以觀察基性巖原位鋯石的形態(tài)特征及與其它礦物的空間關系特征,便于在此基礎上進行實驗分析。
聲明:
“基性巖中原位鋯石的尋找方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)