本實用新型涉及一種手持式X射線熒光分析儀,包括激發(fā)光源裝置、信號探測裝置、信號處理裝置、濾光片準(zhǔn)直器控制系統(tǒng)、攝像頭、GPS定位模塊、ARM嵌入式系統(tǒng),激發(fā)光源裝置中設(shè)置有X射線發(fā)生器和高壓發(fā)生器,信號探測裝置中設(shè)置有探測器,X射線發(fā)生器前設(shè)置有濾光片準(zhǔn)直器控制系統(tǒng),信號探測裝置與信號處理裝置連接,信號探測裝置位于X射線發(fā)生器激發(fā)射線的最佳反射角的位置上,信號處理裝置上連接有ARM嵌入式系統(tǒng),ARM嵌入式系統(tǒng)上配備衛(wèi)星GPS定位模塊,ARM嵌入式系統(tǒng)上連接有數(shù)碼控制器。本實用新型對金屬合金、ROHS有害元素、地礦樣品、環(huán)境樣品、金屬鍍層厚度等進(jìn)行現(xiàn)場快速測定,無需進(jìn)行專門制樣,可以直接測量。
聲明:
“手持式X射線熒光分析儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)