本實(shí)用新型所提供的太赫茲材料的偏振光譜特性測(cè)量裝置,包括一片旋光晶體、一聚焦鏡、一切割方向?yàn)?11度的閃鋅礦晶體、一脈沖延時(shí)器、一寬帶1/4波片、一硅片、一非偏振分束器、兩只聚焦透鏡、二片寬帶半波片、二塊偏振分束器以及兩只平衡探測(cè)器。由于光路中引入了旋光晶體,因此只需經(jīng)過一次時(shí)間掃描,即可獲得待測(cè)樣本在不同光譜、不同偏振方向入射情況下的光譜特性;同時(shí),本實(shí)用新型采用切割方向?yàn)?11度的閃鋅礦晶體,可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)在兩個(gè)垂直方向上的電光取樣測(cè)量,從而大大提高了測(cè)量效率。因此,本實(shí)用新型所提供的裝置能夠達(dá)到高效測(cè)量的效果。
聲明:
“太赫茲材料的偏振光譜特性測(cè)量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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