一種基于監(jiān)測電位校正的主動源傳導(dǎo)電法,該方法通過在常規(guī)主動源傳導(dǎo)型電法基礎(chǔ)上,增設(shè)某個(gè)固定點(diǎn)的電位監(jiān)測,并獲取該點(diǎn)上的不同時(shí)刻的視電阻率校正系數(shù),對其他測點(diǎn)上的實(shí)測視電阻率根據(jù)不同時(shí)刻的校正系數(shù)進(jìn)行校正,對校正后的視電阻率進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和解譯,實(shí)現(xiàn)高精度的電法勘探。該方法相對于常規(guī)傳導(dǎo)型電法而言,能在一定程度上消除全區(qū)的隨機(jī)電場信號干擾,從而獲得更高的勘探精度。該方法適用于隨機(jī)電場干擾較大的測區(qū),如城鎮(zhèn)、廠礦等測區(qū)。
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“基于監(jiān)測電位校正的主動源傳導(dǎo)電法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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