本發(fā)明公開了一種
復(fù)合材料銅鍍層剩余電阻率的測(cè)試方法,所述方法對(duì)于形狀不規(guī)則、不統(tǒng)一的復(fù)合材料銅鍍層,首先分別在室溫下和4.2K下測(cè)量帶銅鍍層材料的總電阻;然后通過濃硝酸浸泡腐蝕去除銅鍍層,由于基體不與濃硝酸發(fā)生反應(yīng)從而得到去銅鍍層材料;再分別在室溫下和4.2K下測(cè)量去銅鍍層材料的電阻;最后分別計(jì)算得到銅鍍層室溫下和4.2K下電阻,從而得到銅鍍層RRR。此方法能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)復(fù)合材料中銅鍍層RRR測(cè)量,彌補(bǔ)了操作繁雜、無法測(cè)量不規(guī)則形狀樣品的缺點(diǎn),具有原理簡單、操作方便、樣品準(zhǔn)備便捷、測(cè)試精度高等優(yōu)點(diǎn)。為復(fù)合材料RRR性能提供了評(píng)估手段,保障了高性能功率耦合器研發(fā),推進(jìn)了大國重器中國造。
聲明:
“復(fù)合材料銅鍍層剩余電阻率的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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