本發(fā)明涉及一種適合于X熒光多元素分析儀測量的密封膜片滲漏測量裝置及方法。該裝置采用雙層膜片對探測腔體內(nèi)部空間進行密封保護,并在內(nèi)膜片與外膜片之間用安裝有用絕緣圈間隔開的二塊銅板,利用二極管的反向截止和水的導(dǎo)電性,來判斷外銅板與內(nèi)銅板之間是否因接觸到礦漿而形成導(dǎo)通,進而判斷外膜片4的密封是否發(fā)生滲漏。一旦檢測到外膜片滲漏或線路連接故障,可通過繼電器發(fā)出報警信號,使儀器啟動保護措施。
聲明:
“適合于X熒光多元素分析儀的密封膜片滲漏測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)