本發(fā)明涉及地質(zhì)勘探技術(shù)領(lǐng)域,公開一種物探儀及其剖面圖成像方法,以實現(xiàn)物探儀對采集的數(shù)據(jù)進行快速的成圖處理,而擺脫第三方的諸多困擾。本發(fā)明方法包括:獲取待測區(qū)域地質(zhì)深度與頻率的轉(zhuǎn)換關(guān)系;確定目標剖面圖中一組特定地質(zhì)深度值所一一對應(yīng)的頻率值;在用戶對任一測點進行采樣時,指示用戶依據(jù)該組特定地質(zhì)深度值所對應(yīng)的各頻率值逐一進行該測點相對應(yīng)電場值的采樣;根據(jù)不同測點、不同頻率所對應(yīng)的不同電場值對采樣數(shù)據(jù)進行插值處理;根據(jù)所有電場值中的最大值和最小值對采樣和插值的各電場值進行配色;根據(jù)采樣數(shù)據(jù)及其插值數(shù)據(jù)生成橫坐標為采樣點、縱坐標為地質(zhì)深度、不同顏色對應(yīng)不同電場值的目標剖面圖。
聲明:
“物探儀及其剖面圖成像方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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