本發(fā)明屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。利用復(fù)合材料制品內(nèi)部缺陷區(qū)域和非缺陷區(qū)域與CT密度值的關(guān)系，通過(guò)預(yù)置缺陷的方式，得出不同類(lèi)型缺陷對(duì)應(yīng)的CT密度降值；通過(guò)比對(duì)CT密度降值，識(shí)別缺陷的類(lèi)型。本發(fā)明涉及的采用無(wú)損檢測(cè)方法識(shí)別復(fù)合材料制品內(nèi)部缺陷類(lèi)型的方法，包含工業(yè)CT檢測(cè)系統(tǒng)校準(zhǔn)、斷層CT檢測(cè)與密度降值計(jì)算、缺陷類(lèi)型識(shí)別過(guò)程，對(duì)樣品進(jìn)行斷層CT檢測(cè)與密度降值計(jì)算，將缺陷區(qū)域的CT密度降值與已知缺陷的CT密度降值進(jìn)行比較，得出缺陷類(lèi)型。該方法，操作方便、可靠性高、適用性廣、識(shí)別速度快，人為誤判少等優(yōu)點(diǎn)。適用于復(fù)合材料制品內(nèi)部缺陷的X射線斷層CT無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域，特別適用于復(fù)合材料制品內(nèi)部缺陷類(lèi)型的識(shí)別。