本發(fā)明提供一種薄儲層厚度預(yù)測方法及裝置,其中方法包括:將工區(qū)范圍內(nèi)多個第一薄儲層的地層反射系數(shù)序列與地震子波進行褶積,以獲取地質(zhì)基函數(shù)空間,將多個第二薄儲層的地震資料基于地質(zhì)基函數(shù)空間展開,以獲取多個展開系數(shù),根據(jù)展開系數(shù)對第二薄儲層的厚度進行預(yù)測,以獲取最大概率厚度,判斷最大概率厚度與對應(yīng)的第二薄儲層的實際厚度之差是否在預(yù)設(shè)閾值內(nèi),若是,對所述第二薄儲層的厚度預(yù)測有效;判斷預(yù)測有效的概率是否滿足預(yù)設(shè)精度,若滿足,利用地質(zhì)基函數(shù)空間對第三薄儲層的厚度進行預(yù)測。本發(fā)明的方法由時間域地震記錄直接估測薄儲層厚度,該方法操作便捷,適用性強,對薄砂巖具有較高的預(yù)測精度。
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“薄儲層厚度預(yù)測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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