本發(fā)明提供了一種非均質(zhì)型斷層的封閉性分析方法及裝置,該方法包括:根據(jù)目標(biāo)區(qū)域的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)、地層特征數(shù)據(jù)和斷層特征數(shù)據(jù),建立非均質(zhì)型斷層地質(zhì)模型;從非均質(zhì)型斷層地質(zhì)模型中,識(shí)別出多個(gè)地層中非均質(zhì)型斷層的兩盤的泥巖層厚度值;根據(jù)多個(gè)地層中非均質(zhì)型斷層的兩盤的泥巖層厚度值,確定多個(gè)地層中非均質(zhì)型斷層的封閉因子;根據(jù)多個(gè)地層中非均質(zhì)型斷層的封閉因子,分析每一地層中非均質(zhì)型斷層的封閉性。本發(fā)明可以分析非均質(zhì)型斷層的封閉性,準(zhǔn)確度高。
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“非均質(zhì)型斷層的封閉性分析方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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