公開了一種用于從代表地質(zhì)地層的電阻率圖像測井估計地質(zhì)地層的感興趣區(qū)域中的孔隙度分布的系統(tǒng)和方法?;诘谝浑娮杪手档拇韼r石基質(zhì)的歸一化因子和基于第二電阻率值的圖像點因子被計算和比較以識別與次生孔隙度對應的電阻率圖像測井中的點。根據(jù)需要,基于不同的第一電阻率值和不同的第二電阻率值,歸一化因子和圖像點因子被重新計算以識別與次生孔隙度對應的電阻率圖像測井中的附加點,直到滿足終止準則。該方法可以進一步包括孔隙度校準操作和一個或多個偽影校正。
聲明:
“用于估計地下儲層中的孔隙度分布的系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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