本發(fā)明公開了一種泥頁巖層系識別方法及裝置,包括以下步驟:步驟S1、對研究區(qū)主要物性資料進行分析統(tǒng)計,獲取研究區(qū)巖石與地層的物性特征,以及確定泥頁巖層系整體物性特征;步驟S2、對大功率可控源電磁數(shù)據(jù)進行定性分析和二維電阻率反演,建立電性剖面結(jié)構(gòu),建立綜合地質(zhì)地球物理模型;步驟S3、確定出含泥頁巖層系沉積地層底面埋深;步驟S4、根據(jù)提取的電阻率異常對泥頁巖層系進行整體識別,確定泥頁巖層系整體分布范圍及厚度。本發(fā)明把泥頁巖層系作為整體識別,對其進行較為精準和詳細的地質(zhì)解釋和預測,預測的泥頁巖層系整體分布范圍、厚度與已知資料吻合較好,為泥頁巖層系識別提供技術(shù)支撐。
聲明:
“泥頁巖層系識別方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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