本發(fā)明公開了一種基于InAsN-GaAsSb材料的交錯型異質(zhì)結(jié)隧穿場效應(yīng)晶體管,主要解決現(xiàn)有III-V族材料制備場效應(yīng)晶體管開態(tài)電流較低的問題。其包括襯底(1)、源極(2)、溝道(3)、漏極(4)、絕緣介電質(zhì)薄膜(5)及柵電極(6)。源極采用N組分為(0,0.05]的InAsN
復(fù)合材料;溝道和漏極均采用Sb組分為[0.35,0.65]的GaAsSb復(fù)合材料;在襯底上,源極、溝道、漏極形成自下而上豎直分布。本發(fā)明通過源極InAsN與溝道GaAsSb兩種材料相互接觸,形成交錯型異質(zhì)隧穿結(jié),進(jìn)而有效降了低隧穿勢壘高度,增大隧穿幾率和隧穿電流,提了器件的整體性能,可用于制作大規(guī)模集成電路。
聲明:
“基于InAsN-GaAsSb材料的交錯型異質(zhì)結(jié)隧穿場效應(yīng)晶體管” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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