本發(fā)明提供了一種AMT剖面探測(cè)方法、裝置和設(shè)備,涉及水下地質(zhì)勘探技術(shù)領(lǐng)域,該方法包括通過(guò)電場(chǎng)信號(hào)采集裝置移動(dòng)式采集目標(biāo)探測(cè)剖面的電道觀測(cè)數(shù)據(jù);該電場(chǎng)信號(hào)采集裝置布設(shè)在目標(biāo)水域的水上,該電道觀測(cè)數(shù)據(jù)包括預(yù)設(shè)多個(gè)電道的電場(chǎng)觀測(cè)數(shù)據(jù),以及該電道對(duì)應(yīng)電極的位置觀測(cè)數(shù)據(jù);通過(guò)磁場(chǎng)信號(hào)采集裝置采集該目標(biāo)探測(cè)剖面的磁場(chǎng)觀測(cè)數(shù)據(jù);根據(jù)該測(cè)點(diǎn)的電場(chǎng)數(shù)據(jù)和該磁場(chǎng)觀測(cè)數(shù)據(jù),處理得到該目標(biāo)探測(cè)剖面的反演結(jié)果。本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種AMT剖面探測(cè)方法、裝置和設(shè)備,以提供適合水域觀測(cè)的、探測(cè)深度更深、探測(cè)效率更高、且分辨率較高的勘探技術(shù)。
聲明:
“AMT剖面探測(cè)方法、裝置和設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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