本發(fā)明涉及一種粗糙介質(zhì)模型的時(shí)域電磁數(shù)據(jù)慢擴(kuò)散成像方法,目的在于提高時(shí)域電磁探測(cè)數(shù)據(jù)的解釋成像精度。本發(fā)明在獲取探測(cè)區(qū)地質(zhì)資料基礎(chǔ)上,先提取地下的空間均勻粗糙度參數(shù);再推導(dǎo)均勻粗糙介質(zhì)的廣義視電導(dǎo)率和擴(kuò)散深度時(shí)域表達(dá)式,通過(guò)定義自變量,將核函數(shù)采用無(wú)窮級(jí)數(shù)求和表示,求解廣義視電導(dǎo)率,推導(dǎo)粗糙介質(zhì)的脈沖磁場(chǎng)正向解,再進(jìn)行變量微商求解獲得廣義擴(kuò)散深度;對(duì)實(shí)測(cè)電磁數(shù)據(jù)進(jìn)行廣義視電導(dǎo)率和擴(kuò)散深度計(jì)算,最后實(shí)現(xiàn)廣義視電導(dǎo)率?擴(kuò)散深度成像。本發(fā)明的粗糙介質(zhì)模型的廣義視電導(dǎo)率和擴(kuò)散深度計(jì)算方法與經(jīng)典均勻半空間介質(zhì)的計(jì)算方法相比,視電導(dǎo)率?深度值更接近真值,提高了視電導(dǎo)率?深度的解釋成像精度。 1
聲明:
“粗糙介質(zhì)模型的時(shí)域電磁數(shù)據(jù)慢擴(kuò)散成像方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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