本發(fā)明屬于分析儀器的結(jié)構(gòu),能被用于分析自然的或工業(yè)的水、生物樣品、地質(zhì)樣品和空氣。本發(fā)明的目的在于實(shí)質(zhì)性地降低由霧化器和分析儀消耗的能量,并且增加可分析物的數(shù)量。在這一點(diǎn)上,用于樣品的熱霧化的方法涉及在低壓放電條件下實(shí)現(xiàn)從陰極的樣品的離子噴射。該陰極被放電加熱到800至1400℃之間的溫度,而鎮(zhèn)定氣體包括有在10至15乇的氣體壓力下的氪(Kr)和氙(Xe)。該熱離子霧化裝置包括設(shè)置在充有惰性氣體的氣體放電室里的霧化器,其特征在于:該霧化器設(shè)置成中空?qǐng)A柱狀金屬和薄壁的陰極。為了達(dá)到這個(gè)目的,該方法包括使用一熱離子霧化裝置,在一有效的實(shí)施例中,包括上述的氣體放電霧化器,即中空金屬和薄壁的陰極。這個(gè)機(jī)制能夠是樣品在短時(shí)間內(nèi)(0.2至1秒)進(jìn)行噴射和霧化,因此降低了檢測(cè)極限而消除了基材影響。
聲明:
“樣品的熱離子熱霧化方法及裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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