本發(fā)明適用于固體樣品元素含量分析技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種用于微波等離子體炬發(fā)射光譜的固體進(jìn)樣分析系統(tǒng),包括激光器,用于輸出預(yù)定波長(zhǎng)的激光;光學(xué)擴(kuò)束裝置,用于將激光擴(kuò)散處理;光路調(diào)節(jié)裝置,用于將擴(kuò)散處理后的激光光束按預(yù)定角度反射和/或?qū)⒖梢?jiàn)光透射處理;光學(xué)聚焦裝置,用于將激光光束聚焦處理后傳送到樣品室;樣品室,用于放置樣品,并接收聚焦后的激光對(duì)樣品進(jìn)行燒蝕處理;成像處理裝置,用于將所述光路調(diào)節(jié)裝置透射處理后的可見(jiàn)光成像處理。本發(fā)明具有無(wú)需樣品前處理,固體樣品直接分析,分析速度快,分析靈敏度高等特點(diǎn),可用于冶金、地質(zhì)、硅酸鹽等工業(yè)領(lǐng)域的固體或粉末樣品快速元素含量分析。
聲明:
“用于微波等離子體炬發(fā)射光譜的固體進(jìn)樣分析系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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