本發(fā)明公開了一種水平井常規(guī)隨鉆測(cè)井地層界面識(shí)別與邊界距反演方法,包括以下步驟:S1:建立常規(guī)隨鉆電磁波電阻率正演仿真數(shù)據(jù)庫;S2:測(cè)井獲得隨鉆電磁波電阻率測(cè)井響應(yīng)和隨鉆方位成像測(cè)井響應(yīng);S3:利用S2獲得的隨鉆方位成像數(shù)據(jù)進(jìn)行地層方位識(shí)別和傾角計(jì)算;S4:根據(jù)S2電阻率測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)、S3拾取地層方位和傾角建立初始地質(zhì)模型。該方法利用常規(guī)隨鉆電磁波電阻率測(cè)井和傳統(tǒng)隨鉆方位成像測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)地層方位識(shí)別、邊界探測(cè)、傾角提取和地層背景電阻率反演計(jì)算。在不增加測(cè)井成本的基礎(chǔ)上對(duì)已有進(jìn)行不同類型儀器優(yōu)勢(shì)互補(bǔ)、測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)隱含信息挖掘,增加了測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)利用效率,獲得更全面地層傾角、方位、邊界距信息。
聲明:
“水平井常規(guī)隨鉆測(cè)井地層界面識(shí)別與邊界距反演方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)