本發(fā)明公開了一種CSAMT縱向分辨率判定和一維真電阻率精細反演方法,根據(jù)兩頻點間的線性差值和中間點的誤差分析來判別表示縱向分辨率的頻點數(shù)上限,將地質(zhì)體的結(jié)構(gòu)、埋深、與圍巖電阻率的差異,電磁噪聲、接收機靈敏度等因素納入頻點和縱向分辨率的關(guān)系中,合理控制頻點密度;采用頻點數(shù)上限作為一維反演地層層數(shù)上限的反演結(jié)果,形成精細的電阻率-深度剖面。達到了精細勘探的目的。本發(fā)明可推廣應(yīng)用于高密度電阻率、大地電磁和時間域瞬變電磁等電和電磁法勘探中。
聲明:
“CSAMT縱向分辨率判定和一維真電阻率精細反演方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)