本發(fā)明公開了一種基于高密度電法溫納裝置的三維電阻率測深應(yīng)用方法,使用高密度2D電阻率儀溫納裝置、大網(wǎng)度大極距電測深剖面組建三維電阻率數(shù)據(jù)體,將電極排列轉(zhuǎn)換為對稱四極裝置,再構(gòu)造為不均勻測網(wǎng),使用最小二乘法進行了三維反演,該觀測方法增大了探測深度,降低了成本,有效反映了地質(zhì)體的空間特征,為鉆孔布設(shè)提供了詳細的資料。
聲明:
“基于高密度電法溫納裝置的三維電阻率測深應(yīng)用方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)