本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種層位壞點(diǎn)過(guò)濾方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),涉及地質(zhì)建模領(lǐng)域。所述方法包括:獲取層位數(shù)據(jù)點(diǎn)集和n個(gè)斷層數(shù)據(jù)點(diǎn)集,每一斷層數(shù)據(jù)點(diǎn)集表示斷層的一個(gè)斷面,每一斷層數(shù)據(jù)點(diǎn)集包括多個(gè)斷層數(shù)據(jù)點(diǎn),層位數(shù)據(jù)點(diǎn)集包括多個(gè)表示層面的層位點(diǎn),n為正整數(shù);根據(jù)n個(gè)斷層數(shù)據(jù)點(diǎn)集,建立斷面模型,斷面模型為用于表示斷層的模型,斷面模型包括n個(gè)斷面;根據(jù)層位數(shù)據(jù)點(diǎn)集和斷面模型,計(jì)算各層位點(diǎn)與斷面之間的近似最近距離;根據(jù)各層位點(diǎn)與斷面之間的近似最近距離,過(guò)濾層位壞點(diǎn),層位壞點(diǎn)為層位點(diǎn)中的異常點(diǎn)。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案中,可以自動(dòng)識(shí)別出層位壞點(diǎn),并將層位壞點(diǎn)自動(dòng)過(guò)濾,提高了層位壞點(diǎn)的過(guò)濾效率。
聲明:
“層位壞點(diǎn)過(guò)濾方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)