本發(fā)明提供了基于常規(guī)測井對致密儲層裂縫的精細識別方法,該方法包括:排除非裂縫響應(yīng)的測井干擾因素,選擇識別裂縫的基礎(chǔ)巖性背景,分析不同裂縫尺度的測井響應(yīng)特征,在常規(guī)測井識別能夠予以識別的尺度上,分析裂縫開啟程度與充填特征,在開啟裂縫中,進行裂縫產(chǎn)狀的識別,并通過深電阻率與基巖電阻率的相對幅度差異,對裂縫的發(fā)育程度進行識別。本發(fā)明方法適用于致密儲層的裂縫精細評價,相較于傳統(tǒng)方法,該方法優(yōu)化了常規(guī)測井識別大尺度裂縫的系統(tǒng)性與地質(zhì)符合性,并進一步對微尺度裂縫的識別進行了分析,為致密儲層開發(fā)提供了技術(shù)支撐和分析方法。
聲明:
“基于常規(guī)測井對致密儲層裂縫的精細識別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)