本實(shí)用新型公開(kāi)了一種礦機(jī)ASIC測(cè)試探針卡及關(guān)鍵結(jié)構(gòu),所述礦機(jī)ASIC測(cè)試探針卡包括外框、雙軸電機(jī)、齒輪、移動(dòng)平臺(tái)、滾柱、支撐彈簧、放置框架、測(cè)試板、滑板、電磁鐵、回復(fù)彈簧、頂塊、延伸支架、活動(dòng)架、觸點(diǎn)和壓板。本實(shí)用新型通過(guò)放置框架可批量的測(cè)試
芯片,提高測(cè)試機(jī)的工作效率,對(duì)芯片進(jìn)行有效定位,避免芯片固定時(shí)發(fā)生偏差問(wèn)題,同時(shí),通過(guò)測(cè)試機(jī)構(gòu)可以快速的進(jìn)行電性連接,檢測(cè)迅速,省時(shí)省力。
聲明:
“礦機(jī)ASIC測(cè)試探針卡及關(guān)鍵結(jié)構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)