本發(fā)明涉及隨鉆測(cè)井技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種通過實(shí)時(shí)測(cè)量地層參數(shù)進(jìn)行綜合分析來調(diào)整鉆頭方向的導(dǎo)向裝置和方法,該地質(zhì)導(dǎo)向裝置中設(shè)置的不同探測(cè)深度的測(cè)量單元可以使地層描述更加詳細(xì)和完備,從而提高地質(zhì)導(dǎo)向結(jié)果。一種多探測(cè)深度的地質(zhì)導(dǎo)向裝置,包括過鉆頭電阻率測(cè)量單元、方位伽馬測(cè)量單元、姿態(tài)測(cè)量單元、方位電磁波電阻率測(cè)量單元、超深方位電磁波探變測(cè)量單元、電磁脈沖傳輸電氣單元、工具總線電氣單元等結(jié)構(gòu)單元。
聲明:
“多探測(cè)深度的地質(zhì)導(dǎo)向裝置和地質(zhì)導(dǎo)向方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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