本發(fā)明公開了屬于激光散斑干涉測量領(lǐng)域的一種外差式時間序列散斑干涉測量物體變形的方法。該方法結(jié)合了時間序列散斑干涉測量和外差式干涉測量方法,直接給出時變場的相位函數(shù),并引入頻率差,確保形變測量精度。本發(fā)明簡化了物體變形檢測系統(tǒng),并通過使用鈮酸鋰偏振控制器更好地適應(yīng)了高速CCD的存儲速度。
聲明:
“外差式時間序列散斑干涉測量物體變形的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)