本發(fā)明公開了一種巖礦樣品光片的質量檢測方法,將制備好的巖礦樣品光片水平放置于工作臺上;在巖礦樣品光片的表面選擇多個不同測量部位,并使用光澤度儀對這些測量部位進行測量,記錄每次的測量結果;計算出所有測量結果的算術平均值作為最終檢測結果,并判斷最終檢測結果是否不小于80;如果最終結果不小于80,則所述巖礦樣品光片質量合格,否則所述巖礦樣品光片質量不合格。本發(fā)明不僅能夠快捷、有效地對巖礦樣品光片進行質量檢測,準確判斷出巖礦樣品光片能否滿足光學顯微鏡的觀測需求,而且檢測方法簡單容易操作,無需依賴專業(yè)技術人員,從而有效解決了現(xiàn)有技術中巖礦樣品光片質量檢測流程繁瑣、檢測效率底下、依賴于專業(yè)技術人員等問題。
聲明:
“巖礦樣品光片的質量檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)