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用于測量等離子體沉積的動態(tài)壓阻探針

676   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 00:24:28
一種用于測量等離子體沉積的動態(tài)壓阻探針,使用接觸式測量方法對金屬推進(jìn)劑電推力器束流等離子體的沉積情況進(jìn)行測量的動態(tài)壓阻探針。測量對象為電推進(jìn)領(lǐng)域的金屬工質(zhì)鋰推力器,測量離子沉積率。采用了一個恒流源通在并聯(lián)的兩塊不同材質(zhì)的金屬板上,將等離子體沉積在金屬表面產(chǎn)生的電阻率變化的差異采集并建立模型計(jì)算,最終獲得等離子體的沉積率。
聲明:
“用于測量等離子體沉積的動態(tài)壓阻探針” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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