本發(fā)明涉及一種利用二維視電阻率數(shù)據(jù)識別地質(zhì)異常體的方法，屬于工程地球物理勘探技術領域。具體是對研究區(qū)域內(nèi)用物探方法獲得的視電阻率數(shù)據(jù)，利用離散二進小波變換系數(shù)的模極大值的位置同信號的局部奇異性密切相關性，辨識出信號的局部奇異點，定量分析出異常地質(zhì)體的邊界信息；同時，利用直方圖均衡化方法增強視電阻率圖像的細節(jié)對比，將二者結合進行數(shù)據(jù)分析，獲取地下地質(zhì)異常體的信息。該方法能使獲得的圖像信息更為豐富和直觀，減少人為因素的影響，提高不良地質(zhì)體的邊界分辨精度。本發(fā)明能夠?qū)ξ锾綌?shù)據(jù)進行有效分析，獲得對斷層、破碎帶、溶洞等異常區(qū)域更為精細化的描述，為設計、施工提供科學依據(jù)。
聲明：
“利用二維視電阻率數(shù)據(jù)識別地質(zhì)異常體的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月25日 ~ 27日 
