本發(fā)明提供一種地質(zhì)剖面真厚度直接測量裝置及測量方法,一種地質(zhì)剖面真厚度直接測量裝置,包括有刻度的測量桿,測量桿上部通過固定裝置安裝有測量系統(tǒng)及GPS定位系統(tǒng),測量系統(tǒng)包括用于測量地層傾角的儀器以及用于精準(zhǔn)定位的激光筆;測量地層傾角的儀器、激光筆分別平行裝配在測量桿兩側(cè)左側(cè),中心高度保持一致。本發(fā)明既能直接測量地層真厚度,既能適應(yīng)各種地形環(huán)境下簡單方便地進行剖面測量、剖面平移、地形和樣點記錄,又能避免測量參數(shù)多、測量不準(zhǔn)確、計算繁瑣等問題,從而達到提高野外地質(zhì)工作效率和質(zhì)量,減少人員工作量的目的。
聲明:
“地質(zhì)剖面真厚度直接測量裝置及測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)