本申請公開了一種存儲(chǔ)陣列的性能檢測方法,包括:獲取目標(biāo)存儲(chǔ)陣列的陣列數(shù)據(jù)和用戶輸入的測試參數(shù);利用所述陣列數(shù)據(jù)和所述測試參數(shù)確定所述目標(biāo)存儲(chǔ)陣列的基礎(chǔ)性能;通過預(yù)設(shè)參數(shù)對所述基礎(chǔ)性能進(jìn)行調(diào)整得到所述目標(biāo)存儲(chǔ)陣列的實(shí)際性能;其中,所述預(yù)設(shè)參數(shù)包括讀寫比例、緩存命中率、產(chǎn)品型號中的任一項(xiàng)或任幾項(xiàng)的組合。本申請能夠提高檢測存儲(chǔ)陣列性能的準(zhǔn)確率。本申請還公開了一種存儲(chǔ)陣列的性能檢測系統(tǒng)、一種存儲(chǔ)介質(zhì)及一種電子設(shè)備,具有以上有益效果。
聲明:
“存儲(chǔ)陣列的性能檢測方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)