本發(fā)明提供了光學(xué)成像儀技術(shù)領(lǐng)域的一種成像光譜儀真空低溫環(huán)境下性能檢測(cè)裝置及其測(cè)試方法,包括真空罐體和罐外隔振平臺(tái);真空罐體內(nèi)設(shè)有平行光管、二維指向鏡以及罐內(nèi)隔振平臺(tái),罐內(nèi)隔振平臺(tái)上固定設(shè)置成像光譜儀,成像光譜儀對(duì)應(yīng)設(shè)置在二維指向鏡正下方,平行光管對(duì)應(yīng)二維指向鏡設(shè)置;真空罐體上設(shè)有光學(xué)窗口,光學(xué)窗口對(duì)應(yīng)設(shè)置在平行光管上方,罐外隔振平臺(tái)內(nèi)設(shè)有目標(biāo)板和提供均勻照明光源的積分球光源,目標(biāo)板對(duì)應(yīng)設(shè)置在積分球光源與光學(xué)窗口之間。本發(fā)明建立了成像光譜儀在軌空間環(huán)境下的主要性能檢測(cè)裝置,提供測(cè)試方案,還原成像光譜儀在軌環(huán)境下主要其性能表現(xiàn)情況,對(duì)關(guān)鍵部件的設(shè)計(jì)結(jié)果進(jìn)行驗(yàn)證,并為后期其他指標(biāo)的測(cè)試提供擴(kuò)展性。
聲明:
“成像光譜儀真空低溫環(huán)境下性能檢測(cè)裝置及其測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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