本發(fā)明公開(kāi)了一種光電器件的電容性能檢測(cè)方法,該方法包括:確定測(cè)試電壓,所述測(cè)試電壓用于測(cè)試光電器件的電容性能,所述測(cè)試電壓為從起始電壓開(kāi)始,連續(xù)上升至終止電壓,隨即所述測(cè)試電壓從所述終止電壓開(kāi)始,連續(xù)下降至起始電壓結(jié)束,所述測(cè)試電壓上升的速率和下降的速率相同;將所述測(cè)試電壓加載至光電器件的兩端,根據(jù)測(cè)試電流和測(cè)試電壓的變化關(guān)系確定所述光電器件的電容性能,所述測(cè)試電流為在所述測(cè)試電壓連續(xù)變化的過(guò)程中所述光電器件上流過(guò)的電流,所述光電器件置于沒(méi)有光照的環(huán)境中。本發(fā)明通過(guò)測(cè)試電壓連續(xù)變化,并且通過(guò)改變測(cè)試電壓的上升或下降速率,準(zhǔn)確反映了光電器件的電容性能。
聲明:
“一種光電器件的電容性能檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)