本發(fā)明公開了一種晶體振蕩器的性能檢測方法,包括如下步驟:(a)包夾;(b)轉(zhuǎn)送;(c)檢測;(d)逐個操作。本發(fā)明前后分步有序,互不干擾,自動高效,逐個排查,不容易出錯,省力便捷,降低了人工勞動強(qiáng)度和成本,有效固定晶體振蕩器,可進(jìn)行連續(xù)化檢測工作。
聲明:
“一種晶體振蕩器的性能檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)