本發(fā)明公開了一種電源管理
芯片電控性能檢測裝置,包括底座,底座內(nèi)設置有用于收集芯片的收納機構(gòu),底座上側(cè)設置有檢測箱,檢測箱內(nèi)設置有用于檢測芯片電控性能的檢測機構(gòu);本發(fā)明通過轉(zhuǎn)動的皮帶帶動芯片由上至下運動,當芯片向下運動至引腳與供電觸點以及三個導電塊接觸時,則芯片引腳向?qū)щ妷K輸出電壓,使得主動觸點與從動觸點抵接,若芯片正常工作,引腳使得三個主動觸點均與從動觸點抵接,則第一電磁鐵才會得電,以此使得右側(cè)的收納腔向左運動至芯片腔下側(cè),從而收集正常工作的芯片,若芯片無法正常工作,則反之,使得左側(cè)的收納腔收集無法正常工作的芯片,從而實現(xiàn)了芯片大批量快速檢測,極大的提高了芯片檢測效率。
聲明:
“一種電源管理芯片電控性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)