本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)一種電機(jī)性能檢測(cè)方法及系統(tǒng)，其中方法包括如下步驟：根據(jù)MCU控制指令控制調(diào)速驅(qū)動(dòng)器輸出動(dòng)力控制數(shù)據(jù)，使霍爾傳感器和角速度檢測(cè)器按照動(dòng)力控制數(shù)據(jù)進(jìn)行電機(jī)數(shù)據(jù)檢測(cè)，獲取霍爾傳感器和角速度檢測(cè)器當(dāng)前的電機(jī)檢測(cè)數(shù)據(jù)，基于PID調(diào)節(jié)器將電機(jī)檢測(cè)數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的反饋數(shù)據(jù)反饋至調(diào)速驅(qū)動(dòng)器，使調(diào)速驅(qū)動(dòng)器按照反饋數(shù)據(jù)調(diào)整對(duì)霍爾傳感器和角速度檢測(cè)器的動(dòng)力控制數(shù)據(jù)。采用本發(fā)明，通過(guò)PID調(diào)節(jié)器將系統(tǒng)MCU的反饋數(shù)據(jù)反饋至光磁編碼驅(qū)動(dòng)器后，使其根據(jù)反饋數(shù)據(jù)調(diào)整電機(jī)的工作參數(shù)，可以使電機(jī)在工作中不斷調(diào)整合適的控制參數(shù)，保證電機(jī)工作的穩(wěn)定性。