一種相變材料封裝性能檢測(cè)設(shè)備、方法及其用途。所述設(shè)備包括外殼,所述外殼包括上蓋和下蓋;所述上蓋和所述下蓋中至少一個(gè)的內(nèi)部設(shè)置有加熱裝置;所述上蓋與所述下蓋之間設(shè)置有透明的上蓋板和透明的下蓋板,所述上蓋板與所述下蓋板之間設(shè)置有樣品容納空間,所述外殼內(nèi)部還設(shè)置有能夠?qū)悠返纳媳砻婧拖卤砻嬷械闹辽僖粋€(gè)與吸油紙貼附在一起的固定元件。本申請(qǐng)的檢測(cè)方法操作簡(jiǎn)單,可以檢測(cè)出定型相變材料以及含有相變材料的制品中相變材料的泄漏情況;本申請(qǐng)的檢測(cè)設(shè)備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、成本低。
聲明:
“相變材料封裝性能檢測(cè)設(shè)備、方法及其用途” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)