本發(fā)明屬于傳感技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種腔耦合MDM波導(dǎo)等離子傳感體系的傳感性能檢測(cè)方法,本發(fā)明通過建立描述腔耦合MDM波導(dǎo)光學(xué)傳感體系傳感性能的模型,揭示耦合方式、耦合強(qiáng)度、相位差異、頻譜響應(yīng)的對(duì)稱性破缺、傳輸損耗、相互作用強(qiáng)度及共振失諧等因素對(duì)系統(tǒng)慢光傳感的影響的一般規(guī)律,確定特定結(jié)構(gòu)中對(duì)介質(zhì)變化比較敏感的波段,這些方面的分析相關(guān)報(bào)道較少;提出采用多模理論來解釋腔耦合MDM波導(dǎo)結(jié)構(gòu)體系中誘導(dǎo)透明產(chǎn)生的機(jī)理,通過電容模型解釋由結(jié)構(gòu)參數(shù)改變導(dǎo)致等離子共振峰的偏移,發(fā)展腔耦合MDM波導(dǎo)結(jié)構(gòu)體系中的色散特性和耗散機(jī)制的新方法,這些模型理論具有較強(qiáng)的創(chuàng)新性。
聲明:
“腔耦合MDM波導(dǎo)等離子傳感體系的傳感性能檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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