本實(shí)用新型公開了一種中子屏蔽性能檢測(cè)系統(tǒng),包括有防輻射的貯源容器,貯源容器自內(nèi)到外由防輻射的鉛層、石蠟層、鎘片層和碳鋼外殼層組成,貯源容器內(nèi)部垂直設(shè)有源導(dǎo)管,源導(dǎo)管內(nèi)裝有同位素中子源,同位素中子源在源導(dǎo)管內(nèi)由帶有中子屏蔽活塞的細(xì)鋼絲繩垂直牽引運(yùn)動(dòng),貯源容器一側(cè)壁開有輻照窗口,輻照窗口內(nèi)嵌入可活動(dòng)的準(zhǔn)直體及中子慢化塊,準(zhǔn)直體一端緊靠待測(cè)樣品,待測(cè)樣品通過升降平臺(tái)固定于滑軌上,待測(cè)樣品的另一側(cè)安裝有中子探測(cè)器,中子探測(cè)器采用支撐架固定于滑軌上。本實(shí)用新型能有效降低散射中子對(duì)于測(cè)試結(jié)果的干擾,檢測(cè)樣品厚度最大可達(dá)80cm。
聲明:
“中子屏蔽性能檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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