本發(fā)明公開了一種用于微系統(tǒng)局部性能檢測(cè)的微波探頭,屬于微波測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域,該微波探頭包括:同軸電纜,所述同軸電纜的一端為自由端且該自由端設(shè)有外露的內(nèi)導(dǎo)體,另一端設(shè)有連接組件;設(shè)于同軸電纜上的彈性導(dǎo)電體,所述彈性導(dǎo)電體收納或彈出于同軸電纜,其中,當(dāng)彈性導(dǎo)電體彈出于同軸電纜時(shí),同軸電纜通過彈性導(dǎo)電體進(jìn)行就近接地,以達(dá)到通過對(duì)微波探頭的結(jié)構(gòu)優(yōu)化,以實(shí)現(xiàn)探頭的就近接地,且微波探頭可以對(duì)微系統(tǒng)局部性能進(jìn)行真實(shí)、穩(wěn)定和重復(fù)探測(cè),具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、應(yīng)用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“一種用于微系統(tǒng)局部性能檢測(cè)的微波探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)