本實(shí)用新型公開一種觸控顯示模組及觸控顯示模組的電性能檢測(cè)裝置;其中,觸控顯示模組包括觸控顯示本體及輔助測(cè)試電路;所述觸控顯示本體包括呈一定規(guī)則排列的N個(gè)電容板極,所述輔助測(cè)試電路包括N個(gè)開關(guān)單元及M個(gè)測(cè)試引出針腳;每一所述開關(guān)單元具有輸入端、輸出端及受控端,所述測(cè)試引出針腳包括控制針腳和測(cè)試針腳;所述開關(guān)單元的輸入端與所述電容板極一一對(duì)應(yīng)連接,所述控制針腳與所述開關(guān)單元的受控端、所述測(cè)試針腳與所述開關(guān)單元的輸出端交織連接。本實(shí)用新型技術(shù)方案能準(zhǔn)確檢測(cè)出觸控顯示模組的電性能是否正常。
聲明:
“觸控顯示模組及觸控顯示模組的電性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)