本實(shí)用新型實(shí)施例所述的LiNbO3相位調(diào)制器性能檢測系統(tǒng),偏振光輸出元件輸出的線偏振光經(jīng)待測LiNbO3相位調(diào)制器、保偏光纖環(huán)、敏感元件后原路返回,返回后的線偏振光發(fā)生干涉;由探測器檢測干涉光強(qiáng),并得到與所述干涉光強(qiáng)對(duì)應(yīng)的電信號(hào);信號(hào)處理單元,接收探測器發(fā)送的電信號(hào),解析后得到測量電流值;誤差計(jì)算單元,接收信號(hào)處理單元發(fā)送的測量電流值,根據(jù)基準(zhǔn)電流值以及測量電流值得到待測LiNbO3相位調(diào)制器在所處環(huán)境下引入的測量誤差。采用上述方案能完全和精準(zhǔn)的反映出LiNbO3相位調(diào)制器的精度,測試結(jié)果可直接用于衡量其在FOCT中的系統(tǒng)性能,為FOCT中LiNbO3相位調(diào)制器的篩選提供直接有效的技術(shù)參考指標(biāo)。
聲明:
“LiNbO3相位調(diào)制器性能檢測系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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