本發(fā)明涉及電子器件制造領(lǐng)域,特別是涉及一種電子元件的檢測(cè)設(shè)備。一種電子元件的檢測(cè)設(shè)備,包括機(jī)架、上料機(jī)構(gòu)、撕膜機(jī)構(gòu)、搬運(yùn)機(jī)構(gòu)、多個(gè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)、收料機(jī)構(gòu)、第一翻轉(zhuǎn)模塊及第二翻轉(zhuǎn)模塊,上料機(jī)構(gòu)內(nèi)承載有待測(cè)的工件,撕膜機(jī)構(gòu)連接于所述機(jī)架并設(shè)于所述上料機(jī)構(gòu)的一端,用于撕下工件上的薄膜,多個(gè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)分別設(shè)于機(jī)架上,搬運(yùn)機(jī)構(gòu)能夠?qū)⑼瓿伤耗さ墓ぜ来伟徇\(yùn)至各個(gè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行性能檢測(cè),收料機(jī)構(gòu)設(shè)于檢測(cè)機(jī)構(gòu)的一側(cè)并,搬運(yùn)機(jī)構(gòu)將完成檢測(cè)的工件搬運(yùn)至收料機(jī)構(gòu)內(nèi)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:實(shí)現(xiàn)電子元件的性能檢測(cè),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè),提高效率。
聲明:
“電子元件的檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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