本發(fā)明提供了一種微區(qū)力致發(fā)光測(cè)量系統(tǒng),包括力致發(fā)光模塊、光源、第一電動(dòng)反射鏡、第二電動(dòng)反射鏡、相機(jī)和光譜儀,可以進(jìn)行受外部光源光激活后的發(fā)光材料的力致發(fā)光性能檢測(cè)。發(fā)光材料經(jīng)力致發(fā)光模塊加壓發(fā)射的熒光先進(jìn)入相機(jī)進(jìn)行發(fā)光面積成像,由外部程序計(jì)算力致發(fā)光實(shí)際面積,與壓力傳感器測(cè)得壓力共同計(jì)算得到發(fā)光材料所受壓強(qiáng);然后通過(guò)切換電動(dòng)反射鏡角度,發(fā)光材料經(jīng)力致發(fā)光模塊加壓發(fā)射的熒光被電動(dòng)反射鏡反射進(jìn)入光譜儀得到光譜數(shù)據(jù),經(jīng)過(guò)分析處理得到發(fā)光材料在各壓強(qiáng)下的力致發(fā)光特性。所述微區(qū)力致發(fā)光測(cè)量系統(tǒng)可以對(duì)發(fā)光材料力致發(fā)光區(qū)域進(jìn)行精準(zhǔn)成像,實(shí)現(xiàn)高精度的發(fā)光材料力致發(fā)光性能檢測(cè)。
聲明:
“一種微區(qū)力致發(fā)光測(cè)量系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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